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高低溫試驗箱具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標均達到國家標準GB/T10592高低溫試驗箱技術(shù)條件，適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法》對產(chǎn)品進行低溫及高溫試驗。
高低溫試驗箱具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標均達到國家標準GB/T10592高低溫試驗箱技術(shù)條件，適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法》對產(chǎn)品進行低溫及高溫試驗。
高低溫試驗箱具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標均達到國家標準GB/T10592高低溫試驗箱技術(shù)條件，適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法》對產(chǎn)品進行低溫及高溫試驗。
高低溫試驗箱具有較寬的溫度控制范圍，其性能指標均達到國家標準GB/T10592高低溫試驗箱技術(shù)條件，適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法》對產(chǎn)品進行低溫及高溫試驗。
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